Plaquette semi-conductrice montrant des pistes balayées par laser pour des défauts, illustration d'icône, vecteur sur fond blanc

• Contributeur: Ivan Ryabokon / Alamy Banque d’images vectorielles
• ID de l’image: 2YBBMK5
• Autorisations: Modèle - non | Propriété - non

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Semiconductor wafer showing tracks being scanned by laser for defects, icon illustration, vector on white background

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